НТЛ Элин

НТЛ ЭлИн > ТЕРМОХРОН >Апории >A.7 Можно ли использовать для крепления устройств ТЕРМОХРОН постоянные магниты?

Апории

A.1 Какова продолжительность работы устройства ТЕРМОХРОН?
A.2 Возможно ли функционирование устройства ТЕРМОХРОН в жидких средах?
A.3 Когда ТЕРМОХРОН прекращает температурные преобразования? Как остановить его работу?
A.4 Какие ограничения на использование устройств ТЕРМОХРОН оказывает входящий в состав их конструкции элемент питания?
A.5 Можно ли подвергать устройства ТЕРМОХРОН кратковременной тепловой обработке?
A.6 Можно ли эксплуатировать ТЕРМОХРОН в проводящих жидкостях, содержащих соли?
A.7 Можно ли использовать для крепления устройств ТЕРМОХРОН постоянные магниты?
А.8 Почему показания двух проверенных устройств ТЕРМОХРОН отличаются друг от друга?
А.9 Возможно ли построение измерительной системы с использованием множества устройств ТЕРМОХРОН?
А.10 Можно ли использовать ТЕРМОХРОН при высоких давлениях?
A.11 Может, устройства ТЕРМОХРОН все-таки не устойчивы к механическим воздействиям и вибрациям?
А.12 Можно ли подделать "температурную историю", зарегистрированную устройством ТЕРМОХРОН?
А.13 Каков точный химический состав элементов корпуса устройств ТЕРМОХРОН?
А.14 Какова история появления и становления устройств ТЕРМОХРОН?
А.15 Чем подтверждена надежность эксплуатации устройств ТЕРМОХРОН?
А.16 Как расценивать особое примечание, появившееся в Data Sheets на все модификации устройств ТЕРМОХРОН?
А.17 Существуют ли варианты более миниатюрных конструкций устройств ТЕРМОХРОН?
А.18 Как определить, что ТЕРМОХРОН выведен из строя вследствие вандализма?
А.19 Как производится калибровка устройств ТЕРМОХРОН?
А.20 Чем отличаются устройства ТЕРМОХРОН модификации DS1921G-F5N#?

A.7 Можно ли использовать для крепления устройств ТЕРМОХРОН постоянные магниты? Как влияют на работу этих регистраторов внешние электромагнитные поля?

Да для крепления устройств ТЕРМОХРОН к железным поддонам или различным металлическим конструкциям, безусловно, допустимо использование различных приспособлений, выполненных из постоянных магнитов. Такая возможность существует благодаря полной защите устройств семейства iButton, к которым также относятся и регистраторы ТЕРМОХРОН, от различных электромагнитных и электростатических полей, что обеспечивается за счет преимуществ корпуса F5 can (ранее этот корпус обозначался, как MicroCAN модификации F5). Эта особенность "таблеток" iButton специально оговорена в отдельных разделах ( "III. Alternate Identification Technologies, D. RF Tags" на стр.3 и "VI. Chapter Summary" на стр.8) основного нормативного документа, посвященного особенностям конструкции подобных изделий "iButton and MicroLAN Standards", в котором защитные свойства корпуса MicroCAN отожествляются со свойствами качественного металлического экрана.
Более того, в п. 2.2 под названием "Type 430F stainless steel" из документа "DS19xx iButton Reliability Report" перечисляются физические свойства и химический состав магнитной стали типа 430F, используемой при изготовлении заказных партий корпусов MicroCAN модификации F5M, специально предназначенных для крепления на металлической поверхности размещенных в них устройств iButton (см. перевод этой главы здесь).
НТЛ "ЭлИн" также был произведен ряд сравнительных тестов по исследованию влияния постоянных магнитов на показания устройств ТЕРМОХРОН, при этом использовались постоянные магниты с остаточной магнитной индукцией около 0,95 Тл и коэрцитивной силой ~2000 кА/м. Тестируемые регистраторы фиксировались непосредственно на магнитах и возле них, таким образом, чтобы вектор магнитной индукции составлял различные значения углов с осью симметрии их корпуса. В качестве образцовых использовались устройства ТЕРМОХРОН, расположенные на значительном удалении от тестируемых "таблеток", т.е. там, где влиянием магнитного поля можно было пренебречь. В точках размещения тестируемых и образцовых регистраторов гарантировалось равенство окружающих их корпус температур. Испытания производились при различных температурах в диапазоне от 0°С до +30°С, и ни разу не было зафиксировано расхождения в показаниях образцовых и тестируемых устройств, большего величины нормируемой для них погрешности.

Наверх